JHipster: Analyse de l'impact de l'évolution sur le processus de test

Défense de mémoire de Koko Nguepi Kenfack

Resum²
Le test exhaustif des systèmes logiciels configurables est en pratique assez difficile d'où l'utilisation des techniques d'échantillonnages et d'abstraction de la variabilité afin de réduire
l'espace des configurations   tester. Halin et al. [1] décrivent une infrastructure permettant le test exhaustif d'un cas particulier de système configurable : le générateur d'application
JHipster 3.6.1. Ils décrivent ensuite l'effort d'ingénierie qu'ils ont déployé pour effectuer le test. Dans la suite de leurs travaux, ils définissent 6 classes de fautes permettant de
catégoriser les Bugs identifiés par le test exhaustif. Enfin, ils comparent quatre stratégies de test par échantillonnage permettant de réduire l'espace configurations en validant pour
chacune d'elle en fonction de la taille de l'échantillon : le nombre de Bugs et le nombre de classe de fautes Identifiées afin de conclure sur les stratégies les mieux adaptées pour
détecter les fautes en fonction de la taille de l'échantillon. Face  à l'évolution rapide de JHipster, nous aimerons savoir si les travaux de Halin et al. permettent de soutenir cette
évolution autrement dit, leurs résultats sont-ils encore valides pour les versions suivantes de JHipster ? Telle est la question a laquelle nous essayerons de épondre dans ces travaux.
€ cet effet, nous commencerons par dupliquer les travaux de Halin et al. sur une version plus récente de JHipster(version 4.8.2), possédant plus de fonctionnalitées et donc plus
de produits possibles.

Ensuite, nous analyserons et comparerons les résultats obtenus, en terme d'effort d'ingénierie pour la reproduction de [1] mais également les observations relatives
aux fautes détectées et aux performances des méthodes d'échantillonnage utilisées par Halin et al. mais cette fois-ci appliquées sur JHipster 4.8.2. Ceci nous permettra alors
d'apporter des élements quant   la généralisation possible des résultats obtenus par Halin et al. .

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